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Spettrometro a fluorescenza a raggi X portatile (pXRF) Olympus Vanta – serie C

Questo strumento consente la rapida determinazione delle concentrazioni di una vasta gamma di elementi (con massa atomica superiore al magnesio) in campioni solidi. Pur non raggiungendo i limiti di rilevabilità di altre tecniche analitiche come ICP-MS o ICP-OES, la possibilità di eseguire analisi non distruttive su campioni tal quali fa sì che questo strumento possa essere impiegato in svariati campi, spaziando dall’analisi di matrici ambientali (suoli, sedimenti, rocce) a quella di beni di interesse culturale (reperti archeologici) fino ad applicazioni per il controllo qualità su leghe metalliche o oggetti preziosi o per l’analisi di conformità del contenuto in metalli in prodotti di consumo o elettronici (Direttiva RoHS). Lo strumento può operare sia in configurazione da banco che in modalità portatile direttamente in campo.

pXRF

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